主要技术指标

技术参数

1、AZtec X-Max 50 显微分析系统 2、StreamⅡ显微分析处理器(分立式设计)；Mics F+显微分析处理器（分立式设计） 3、X-Max 50 Detector: 大面积分析型 SDD探测器（专利） 4、SuperATW窗口 50mm2 超大面积活区 5、分辨率优于127eV （MnKα处） 6、无需液氮冷却 7、分析元素范围：Be4-Cf98 8、独立封装FET场效应管 9、探测器自动伸缩功能 10、4096*4096高分辨率全谱智能面扫描 11、8192*8192高分辨率电子图像

功能/应用范围

能谱仪主要用于矿物、生物、高分子、陶瓷、混凝土、纤维等无机或有机固体材料进行微区成分元素种类与含量分析。AZtec X Max 50能谱仪含有电制冷探测器系统，支持信号同步采集分析，采用场效应管（FET）一体化集成设计的高速SDD芯片，探测器具有50mm2有效面积，超薄窗设计，独立真空；能量分辨率：可自动标识谱峰，设定自动标定的元素范围；可自动扣除背底，并支持用户手动调整；可进行谱重构，对重叠峰进行可视化谱峰剥离10*；配备完善而精准的原子数据库，包含所有的分析线系（K, L, M 和 N线系）；可对抛光表面或粗糙表面定量分析。

仪器服务信息

共享模式:外部共享

对外开放共享规定:遵照中国科学院对外开放统一管理规定

收费标准:面议

仪器安放地址:海南省三亚市吉阳区鹿回头路28号

仪器联系人:他老师

联系电话:0898-88219301

电子邮箱: takaiwen@idsse.ac.cn

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