主要技术指标

技术参数

1分辨率 1.1信息分辨率：≤0.12nm 1.2点分辨率：≤0.25nm 1.3 洛伦兹分辨率：≤2.5nm 2加速电压 2.1加速电压：最高200kV；最低至少20kV 2.2 加速电压全程范围内切换仅需通过软件控制完成 2.3 高压稳定性：≤1ppm/10min 3电子枪 3.1电子枪类型：肖特基场发射电子枪，电子枪亮度：1.8×109 A/cm2srad 3.2 束流：1nm束斑电流≥1.5nA;最大束流≥50nA@200kV 3.3 束斑漂移：<1nm/min 3.4 最小能量分辨率：≤0.8eV 4 TEM放大系统 4.1 放大倍数：25~1,050,000倍 4.2 放大倍数重复性：<1.5% 5 扫描透射(STEM) 5.1分辨率：≤0.16nm 5.2探头：高角环形暗场探头（HAADF） 5.3明场（BF）八分割探测器/暗场（DF）八分割探测器/DPC/iDPC 5.4 STEM放大倍数：310~250M倍 5.5 TEM与STEM模式相互切换后所需热稳定时间小于30秒

功能/应用范围

场发射透射电子显微镜配备了STEM、EDX、CMOS、洛伦兹透镜等附件，能采集TEM明场、暗场像和高分辨像，可通过形貌分析获得样品（包括高分子、金属、陶瓷、复合材料等）形貌、粒径、分散性等相关信息。能进行选区电子衍射和汇聚束衍射，观察样品结构并进行纳米尺度的微分析。能进行EDX能谱分析和高分辨STEM原子序数像的分析。

仪器服务信息

共享模式:外部共享

对外开放共享规定:在满足校内需求外，本仪器对外开放共享，接受提前10个工作日预约。

收费标准:由于每个样品的拍照时间由样品本身决定，故按时间收费为1000元/时。

仪器安放地址:海南省海口市美兰区人民大道58号

仪器联系人:杜晶晶

联系电话:13698931390

电子邮箱: 279400727@qq.com

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