仪器型号：Verios G4 UC
产地国别：无
运行状态：正常
造厂商：赛默飞世尔
仪器分类：扫描电镜
主要技术指标
技术参数
主要规格及技术指标 同时装有二次电子和背散射电子探测器； 配有电制冷能谱仪系统； 二次电子分辨率在最佳工作距离时分辨率：15kV优于0.6nm；1kV优于0.7nm； 着陆电压：20V~30kV； 电子束流：0.8pA~100nA（连续可调）； 物镜光阑能自加热自清洁； 配备电子束减速模式；
功能/应用范围
利用二次电子或背散射电子信号对金属材料、半导体材料及高分子材料等微观结构进行表面形貌及断口分析，并配合能谱仪对样品元素进行半定量分析。 主要附件及配置 等离子清洗器一套。极靴内二次电子和背散射电子探头各一套；极靴内ICD和MD探头一套；等离子清洗一套；电子枪和单色器一套；定向背散射电子探头；电制冷能谱仪
仪器服务信息
共享模式:外部共享
对外开放共享规定:本仪器开放共享，可出具CMA检测报告。
收费标准:300元/样或800元/时
仪器安放地址:海南省海口市美兰区人民大道58号
仪器联系人:万老师
联系电话:15120759297
电子邮箱: 120802237@qq.com
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